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2017联动科技产品推广暨模拟ic测试技术研讨会

西安市集成电路产业发展中心携手ic测试设备领先的供应商联动科技，诚邀您参加 “ 2017联动科技产品推广暨模拟ic测试技术研讨会” 。通过本次研讨会，您将了解到：

1.  measurement by trigger technic   触发测量方法

2.  multi timing measure technic 并行多点采样时间测量技术

3.  vector table on analog   模拟器件测量的矢量编辑

4.  auto spike detector 尖峰自动侦测技术。

会议为免费参加，并有纪念品和幸运抽奖活动，座位有限，报名从速！报名请将姓名和威尼斯人最新的联系方式发送到以下威尼斯人最新的联系方式：

西安： 刘颖  88328230-8019  liuying@xaic.com.cn

会议日程：

*仅供topic参考，具体以现场agenda为准

               来源：西安集成电路产业发展中心